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🧪 kosha2010_063_064

epiedit 검토 완료 최종데이터 (읽기 전용) · 측정정보 최종수정 2026-07-07

📄 이 사건의 질병 레코드

뇌의 악성 신생물 / 반도체공학 기술자 및 연구원 / IDS 990
뇌의 악성 신생물 / 전기 및 전자공학 시험원 / IDS 989

⚗️ 유해물질 측정 0건

측정정보가 없습니다.

📅 노출기간 2건

시작시기 종료시기 총기간 빈도 원문 인용
1997년 5월 2003년 7월 퇴사할때까지 약 6년 2개월
Q반도체에서 1997년 5월∼2003년 7월 퇴사할때까지 약 6년 2개월간 검사공정에서 근무를 하였다.
3조3교대
근무형태는 3조3교대였고, 보드에 반도체 칩을 심고 해당 보드를 고온 챔버에 넣고 고온 챔버 내에 전류가 흐른 상태에서

🏭 작업환경 3건

공정 환기설비 환기 불량한 공간 원문 인용
검사공정 — 보드에 반도체 칩을 심고 해당 보드를 고온 챔버에 넣고 고온 챔버 내에 전류가 흐른 상태에서 제품(디바이스)사양을 입력하여 정해진 시간과 온도로 제품을 고온으로 구워서 테스트, 약 30대 정도의 챔버를 담당
보드에 반도체 칩을 심고 해당 보드를 고온 챔버에 넣고 고온 챔버 내에 전류가흐른 상태에서, 제품(디바이스)사양을 입력하여 정해진 시간과 온도로 제품을고온으로 구워서 테스트 하는 것으로 약 30대 정도의 챔버를 담당하였다.
불량품 연소시 냄새 노출, 챔버를 열면 역겨운 냄새에 노출, 거친 보드판에 접촉시 검은 분진에 노출
불량품 연소시 나는 냄새뿐 아니라 양품의 경우에도 챔버를열면 역겨운 냄새에 노출, 거친 보드판에 접촉시 검은 분진에 노출 되었다.
작업환경측정 미시행 (소음 이외)
이공정은 직접 취급 유해물질 없어 작업환경측정은 소음 이외의 요인에 대해 시행하지 않았다.

🦺 보호구 0건

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