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🧪 kosha2016_062_066

epiedit 검토 완료 최종데이터 (읽기 전용) · 측정정보 최종수정 2026-07-12 (bjw)

📄 이 사건의 질병 레코드

뇌의 악성 신생물 / 전기·전자 부품 및 제품 제조 장치 조작원 / IDS 1439

⚗️ 유해물질 측정 5건

측정시기 물질 농도 단위 원문 인용
불명 방사선 (Ionizer)
→ 전리방사선 · IARC Group 1
맥락: Ionizer
0.1~0.5 µSv/h
그 노출량은 방사선은 0.1~0.5 μ㏜/hr, 유효선량 0.2000~1.0000 mSv/yr의 방사선에 노출 가능하고
불명 방사선 유효선량 (Ionizer)
→ 전리방사선 · IARC Group 1
맥락: Ionizer
0.2000~1.0000 mSv/year
그 노출량은 방사선은 0.1~0.5 μ㏜/hr, 유효선량 0.2000~1.0000 mSv/yr의 방사선에 노출 가능하고
불명 방사선 총 노출선량 (Ionizer)
→ 전리방사선 · IARC Group 1
맥락: Ionizer
0.6000~3.0000 mSv
최대 3년 동안의 총 노출선량은 0.6000~3.0000 mSv로 추정된다.
불명 극저주파자기장
→ 극저주파 자기장 · IARC Group 2B
0.2~0.3 µT
극저주파자기장의 노출량은 어레이(array) 검사 공정에서 0.2~0.3 μT이고 LASER Repair 공정에서 1.0 μT(최대값)로 추정한다.
불명 극저주파자기장
→ 극저주파 자기장 · IARC Group 2B
1.0 µT
극저주파자기장의 노출량은 어레이(array) 검사 공정에서 0.2~0.3 μT이고 LASER Repair 공정에서 1.0 μT(최대값)로 추정한다.

📅 노출기간 2건

시작시기 종료시기 총기간 빈도 원문 인용
2003년 12월 2004년 6월 6개월 4조3교대는 1주에 6일 근무, 1일 근무시간은 8시간이고 4조 3교대로 운영
2003년 12월에서 2004년 6월까지 6개월 동안 Mac/Mic 검사를 수행하였고 4조3교대는 1주에 6일 근무하고 주․야로 전환하는 과정에서 2일 휴무하였다. 1일근무시간은 8시간이고 4조 3교대로 운영된다.
2004년 6월 2011년 9월 7년3개월 4조3교대는 1주에 6일 근무, 1일 근무시간은 8시간이고 4조 3교대로 운영
2004년 6월에서 2011년 9월까지 7년3개월간 LASER Repair 검사업무를 하였으며 4조3교대는 1주에 6일 근무하고 주․야로 전환하는 과정에서 2일 휴무하였다. 1일근무시간은 8시간이고 4조 3교대로 운영된다.

🏭 작업환경 2건

공정 환기설비 환기 불량한 공간 원문 인용
Mac/Mic 검사 — 현미경으로 글라스의 각 레이어마다 얼룩 등을 확인, 현미경 검사를 통해 보이는 화면을 모니터로 확인
Mac/Mic 검사는 현미경으로 글라스의 각 레이어마다 얼룩 등을 확인하기 위하여 매크로, 마이크로 검사를 하는 것으로 현미경 검사를 통해 보이는 화면을 모니터로 확인하는 업무 방식이었다.
LASER Repair 검사업무 — 모니터를 보면서 불량 유무를 검사, 초기 공정 검사 및 최종 공정 검사 수행, 정전기 방지용으로 Ionizer 장착 개방
LASER Repair 검사업무는 모니터를 보면서 불량 유무를 검사하는 것으로, 초기 공정 검사 및 최종 공정 검사를 수행하였으며, 정전기 방지용으로 Ionizer가 장착되어 있다. 근로자는 2004년 6월에서 2007년 6월까지 LASER Repair 검사업무를 Fab 내부에서 수행하였으며

🦺 보호구 0건

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